LED暂能热阻量测系统

说明

LED暂能热阻量测系統是基于*的JEDEC Static Method测试方法（JESD51-1），通过改变电子器件的的输入功率，使得器件产生温度变化。在变化过程中，系统测试出晶片的瞬态温度回应曲线，仅在几分之内即可分析得到关于该电子器件全面的热特性。本系统采用的是“运行中”的即时测量的方法，結合其精密的硬件，可以快速精确捕捉到高讯噪比的温度瞬态曲线。

LED暂能热阻量测系统

● 本系统由工研院研发完成，并获得2014 百大科技研发奖（R&D 100 Awards）

● 只需3分钟，即可量测出完整的LED 封装元件热结构

● 与T3ster 量测数据*，并可使用于多种封装LED

● 弹性的架治具，重现性比T3ster 更好

技术规格

参考规格